実験装置・計測装置

実験装置

Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅰ
Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅱ
Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅲ(高温摩擦試験装置)
Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅳ(水潤滑用試験装置)
真空用Ball-on-Disk型摩擦試験機
真空用Ball-Bearing型摩擦試験機
真空用Ball-Bearing型摩擦試験機(日立メディコより借用)
TE66 Micro-scale Abrasion Tester(Phoenix Tribology)
超音波モータ駆動型ステージ試験装置（小型）
超音波モータ駆動型ステージ試験装置（中型）
超音波モータ駆動型ステージ試験装置（大型）(京セラより借用)
摩擦音測定装置
円筒・円筒すべり摩擦試験機(水潤滑用試験装置)
二円筒型転がり摩擦試験機
柔軟媒体搬送システム評価装置
液晶分子配向用ラビング装置
トライボシステム加振法実験装置(液晶分子配向用ラビング布の評価装置)
トライボシステム加振法実験装置：周波数発生装置(KENWOOD)
トライボシステム加振法実験装置：振動発生装置(EMIC 512-D)
トライボシステム加振法実験装置：電源増幅装置(EMIC 371-A)
健康機械実験装置Ⅰ: Bio Control Bike（omron）
健康機械実験装置Ⅱ: Healthful Stepper（omron）

計測装置・分析装置

表面粗さ形状測定機　サーフコム1500(ACCRE TECH)
表面粗さ測定装置(ミツトヨ)
走査型プローブ顕微鏡（原子間力顕微鏡）　SPI3800(セイコー電子)
走査電子顕微鏡　S-2350(日立)
エネルギー分散型X線分析装置　EMAX-7000(HORIBA)
電界放出型走査電子顕微鏡　S-80 / SEM用超高精細画像処理システム　PCI(日立)
環境制御型走査電子顕微鏡（共通装置）(Nikon)
リアルタイム走査型レーザー顕微鏡　1LM21(レーザーテック)
光学顕微鏡システム / 光学顕微鏡　BH2-UMA(OLYMPUS)
光学顕微鏡システム / 顕微鏡デジタルカメラ　DS-5M-L1　BH2-UMA(Nikon)
実態顕微鏡システム / 実態顕微鏡　SZ-60（OLYMPUS）
実態顕微鏡システム / CCDカメラ　FCD-725（OLYMPUS）
デジタルHFマイクロスコープ　VH-8000（レンズ：VH-Z25, VH-Z75, VH-Z450）（キーエンス）
高速フーリエ変換赤外分光光度計　FT-520W（HORIBA）
レーザドップラ振動計　LV-1610（小野測器）
レーザドップラ振動計　LV10（SONY）
微小押し込み硬さ試験機　MHA-400（NEC）
ビッカース硬度計　MVK-E（AKASHI）
精密天秤　AE163（Mettler）
赤外線放射温度計　IR-AP（CHINO）

環境制御装置

赤外線集光加熱装置　IR-2000（サーモ理工）
高速・高精度コンパクト除電ブロワ　SJ-F100/010（キーエンス）
除電ブロワ　SJ-F020（キーエンス）
温度・湿度制御装置（SONYより借用）（TABAI）
クリーンブース（アルプス電気より借用）（AIR TECH）
試料研磨機　Doctor-Lap（MARUTO）
小型ボール盤

成膜装置

イオンビームミキシング装置（共通装置）（日立）
イオンコーター　IB-3（Eiko）